Универсальный кристаллографический оптический аппарат

Определение "Универсальный кристаллографический оптический аппарат" в словаре Брокгауза и Ефрона

Универсальный кристаллографический оптический аппарат
Универсальный кристаллографический оптический аппарат*

проф. П. Грота (в Мюнхене) — является одним из самых важных приборов в кристаллографии и минералогии. Он представляет из себя усовершенствование прибора Нёрренберга и может служить как для исследования минералов в сходящемся свете, так и в параллельном поляризованном свете. Устройство его в первом случае следующее (см. фиг., в 1/3 действительной величины прибора): зеркало S посылает лучи света в инструмент. В трубки f заключены: поляризатор p и две линзы ее'. Выше находится система из четырех собирательных чечевиц п. Все эти части устроены так, что они вдвигаются в трубку g, укрепленную на подставке В. С подставкой B соединена неподвижно круглая пластинка, на которой (под h) находится нониус, а на верхнюю часть ее надевается подвижная часть l, на скошенном наружу нижнем крае которой hi нанесены деления. Исследуемый препарат кладется на стеклянный кружок k. Вращая l, поворачиваем исследуемый препарат на угол, величину которого можно определить по нониусу под hi. Все описанные части аппарата составляют вместе его нижнюю половину, которая может двигаться по трехгранной стальной призме А. Верхнюю половину составляют части, укрепленные на двигающемся вверх и вниз при помощи винта цилиндре С, с которым неподвижно соединена полая цилиндрическая трубка y.

В этой трубке находятся четыре собирательные чечевицы о; наблюдаемое изображение появляется непосредственно над ними в плоскости r, где находится пластинка с нарезанными на ней под прямым углом двумя черными линиями; на одной из ветвей такого креста нанесены деления, проходящие через все поле зрения (так называемый "стеклянный микрометр"). Выше помещена чечевица t и еще выше анализатор q, вращающийся вместе с верхней частью трубки, на которой по краю t сделаны деления, а на s нониус и отметки для определения положения николя. В трубке окуляра сделан прорез z, в который может вставляться слюдяная пластина в 1/4 дл. волны или кварцевый клин для определения характера двойного лучепреломления. В описанном виде аппарат применяется, во-первых, для определения положения оптических осей. Для этого, заставляя свет проходить через различные грани рассматриваемого кристалла, стараются найти выход оптической оси (в случае кристаллов одноосных) или обеих осей (в случае кристаллов двуосных). Тогда, зная положение оптических осей, мы можем во многих случаях решить и вопрос о том, к какой кристаллографической системе принадлежит данный кристалл. Кроме того, можно определить характер двойного лучепреломления минерала. Наконец, можно приблизительно определить и величину угла оптических осей. Для этого плоскость последних ставят параллельно делениям микрометра, поворачивают николь на 45° так, что появляются темные гиперболы, и определяют расстояние последних в делениях микрометра. Тогда, зная чему соответствует одно деление микрометра (а это можно легко узнать, взяв пластинку минерала, угол осей которого точно определен; обыкновенно в аппаратах одно деление равно 6°), мы можем сказать, скольким градусам равен угол исследуемого минерала. Кроме того, этот аппарат входит как составная часть в прибор для точного определения угла оптических осей, а также для определения вращения плоскости поляризации. Существуют, наконец, оптические поляризационные приборы, к которым присоединены еще и части обыкновенного гониометра (впрочем, редко употребляющиеся). Как указано выше, тем же прибором можно пользоваться и для исследования в параллельном поляризованном свете, если целью исследования является определение направлений погасания света в кристалле. Для этого верхняя часть аппарата поднимается настолько высоко, чтобы в фокусной плоскости собирательных стекол был виден кристалл. По ветвям стеклянного микрометра можно определять, будут ли ребра кристалла в положении затемнения параллельны диагоналям поперечных разрезов николей или нет. Если надо исследовать в параллельном свете кристалл более значительный, то удаляют трубку и со всем, что находится внутри ее, и заменяют ее простой короткой трубкой, в верхнюю часть которой вставлен николь. Затем удаляется система собирательных стекол и из трубки f. В последнее время вместо этого прибора в очень многих случаях предпочитают пользоваться поляризационными микроскопами, с которыми можно определять почти все, что и с описанным прибором.

В. В.